机械视觉里短波红表是什么 ？
什么是短波红表（SWIR）光 ？
短波红表（SWIR）光通常指1000-1700nm波长领域内的光线。由于通常工业相机硅传感器的上限约为1000nm ，因而SWIR成像必要能在SWIR领域内工作的专用SWIR相机。砷化铟镓（InGaAs）传感器是在SWIR中使用的重要传感器 ，使用该传感器的SWIR相机可覆盖典型的SWIR频带。
为什么使用短波红表（SWIR） ？
与可见光相比 ，SWIR波长更长 ，穿透力更强 ，与原子结构的相互作用也分歧 ，这为机械视觉利用提供了一些新的、怪异的成像可能性。当图像在SWIR光谱时 ，会出现出与可见光分歧的影像 ，原来在可见光下难以识此外特点 ，在SWIR下可能清澈可见。
产品的检测和分类是SWIR最有前途的机械视觉利用之一。例如在该波长的物体图像中 ，水险些是玄色的 ，由于它在1450nm和1900nm都有很强的吸附性。因而 ，使用相宜的SWIR光源能够明显地显示受损水果、散装谷物或灌溉优良的作物的水分含量。
Z6人生就是博科技现已推出1050nm/ 1200nm/1300nm/1450nm/1550nm/1600nm/1650nm等波长的SWIR光源 ，可覆盖日常检测所需的各个波段。
以下是短波红表光源的利用案例 ，供各位客户参考。（短波红表光源需配套短波红表相机一路使用）
1、光伏片线路MAKE点检测
下图中能够看出 ，近红表与短波红表光源对分歧物质、对光谱的分歧吸收个性出现的画面 ，能够更好提升检测区域的对比成效。
2、包装袋内物体检测
下图中能够看出 ，近红表与短波红表光源的波段分歧 ，穿透性分歧、对暗藏于物体内的成像检测成效分歧。
3、晶元内孔检测
下图中能够看出 ，近红表与短波红表光源的波段分歧 ，穿透性与反射性分歧、对暗藏于物体内的成像检测成效分歧。
4、苹果变质检测
下图中能够看出 ，近红表与短波红表光源的波段分歧 ，穿透性与反射性分歧、对物体内的分子分列变动区别 ，使得分歧波段的成像对比成效分歧。
5、墨水瓶内杂质检测
下图中能够看出 ，近红表根基无法有穿透成效 ，而短波红表光源能够很好的穿透使瓶内杂质对比显著。
6、面包防腐剂包有无检测
食品包装常检的有食品的无缺、有无放防腐剂包等。下图中近红表照明对比不够显著 ，而短波红表光源穿透性强照明对比大大提升。
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Z6人生就是博科技是一家致力于光源研发、出产一体化公司 ，是各个行业的光源利用前行者。短波红表的成像使用还有好多的拓展 ，必要人们去启发和摸索。若是短波探测器的出产技术可能实现成本上的革命性突破 ，并且配置相应的光源 ，相信短波成像在拥有如此多的技术优势下在各领域的使用都将遍及开来。
