在半导体造作过程中，全自动晶圆缺点检测技术对光学成像成效要求很高 。检测明显场和暗场，明暗场大多使用高亮光纤光源成像，观察硅片的表表缺点（如崩边缺角，表表脏污） 。Z6人生就是博科技新升级2代新款高亮光纤光源，新款2SLG250比2SLG150-W亮度提升60% 。发光效力高，发热量低，是半导体检测的最佳搭配 。
产品特点
◆选取多组耦合透镜设计实现高亮度，高效力
◆表观简洁流畅，体积更幼巧
◆标配R/G/B/W/CW（高显色）型5种色彩
◆20mm照度可达到1500万LX
◆适合半导体显微模组利用
照度个性图
型号：LTS-2SLG250-W/2SLG150-W
注：调光100%、光纤8mm光束，总长1100mm的直型光纤导管，从光纤出光口到各照射距离的地位的实测值（并非保障值） 。
亮度对比图
2SLG250-W比2SLG150-W亮度提升60%以上
可配套4款分歧集光镜
照度散布图(LTS-HL)
照度散布图(LTS-ML)
成像灰度对比图
相机：ACA2440-20gm
镜头：LTS-TC05110
相机曝光：130us
显微模组晶圆利用示意图
光源参数
