在磁芯机械视觉检测项目中 ，好多人城市陷入一个误区：算法反复优化、参数一向调试 ，最终仍旧无法解决微裂纹漏检、麻点误检、成像不不变等问题。其实无数情况下 ，并不是算法精度不及 ，而是光源选型不当。
磁芯表表哑光且带有幽微反光 ，曲面、倒角结构多 ，烧结后表表凹凸不平 ，是机械视觉检测公认的 “难拍工件”。选取单一光源打光 ，极易产生反光亮斑、阴影杂乱 ，造成缺点难以鉴别；即便算法配置到很高精度 ，也难以采集清澈有效的图像。今天就通过实战案例 ，分享磁芯缺点检测的最优光源选型思路。
本次待检测磁芯的不良类型蕴含划伤、边角破碎、表表异物等 ，必要对工件四个面做全方位表观检测 ，鉴别全数显性与隐性破损缺点 ，样品如下图：
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图1 样品正面 |
图2 样品背面 |
针对磁芯特殊的结构与材质个性 ，我们摒弃传统单光源打光规划 ，选用多角度组合环形光 ，改善反光、阴影、检测盲区三大主题痛点。裂纹、气孔、崩边等缺点处可形成清澈的明暗反差 ，使肉眼难以分辨的微幼缺点得以显露。多角度补光可能覆盖磁芯平面、侧边、倒角全数区域 ，解除大部门检测盲区 ，成效如下图：
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图3 裂缝 |
图4 刮伤 |
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图5 异物 |
图6 崩缺 |
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图7 侧面凹坑 |
图8 侧面异物 |
本磁芯视觉检测案例选取30° 红蓝高低组合光源 + 多角度环形光的复合打光规划 ，充分阐扬红蓝光源高对比度成像优势 ，共同多角度环形补光 ，在彩色相机成像下能够清澈地凸显缺点特点 ，有效抑造磁芯曲面带来的反光滋扰。
整套光源规划两全平面、侧边、倒角多区域成像 ，可能鉴别微裂纹、气孔、崩边、划痕等多种复杂缺点 ，提升缺点辨识度 ，有效降低误检、漏检率；使磁芯多品类、多类型缺点检测具备更好的不变性与通用性 ，满足量产场景下的高精度质检需要。
