电容表表缺点检测
使用光源：LTS-RNMU75-BGR+FT5050-G
使用多色光分歧角度照射，缺点地位出现出分歧的色彩，对电容的表缺点检测比力有利，增长底部光源分歧色彩凸起产品概括 。
晶圆表表的字符检测
使用光源：LTS-3COX13752-W
晶圆表表比力光滑，平坦的晶圆表表激光雕镂字符，使用垂直均匀光同轴光，使字符概括清澈，出现出显著的对比度 。
晶圆弧边倒角检测
使用光源：LTS-2HSL10542-W
晶圆边为圆弧倒角类型，必要高精度测试其最高点与倒角的夹角，选取平行性强的平行集光源，共同高景深的双侧远心镜，边缘清澈 。
芯片金线检测
使用光源：LTS-3DM116-W
必要检测芯片与金线衔接是否有断，金线为圆柱且不在统一高度，选取彩色相机共同十吩旖均的圆顶光源拍摄，成像清澈对比度好 。
CPU底座针脚异色
使用光源：LTS-DM154-W+LTS-COX38-CP-W
CPU底座针脚是圆弧状，必要将针脚周围异色检测明显，不能有金属反光，使用均匀光圆顶组合高精度同轴，出现出针脚整体均匀，异色清澈显著 。
磁柱表表缺点检测
使用光源：LTS-COXL100-W
磁柱表表有凹坑、划伤、蹦缺等缺点，使用线阵相机，让产品动弹一周，共同同轴线光，能清澈的出现划伤，凹坑等缺点，对比度显著，轻微的缺点都能够很清澈的对比度 。
通明晶片概括检测
使用光源：LTS-RN9070-W
通明晶片放在治具内，必要检测出晶片的尺寸，由于晶片通明，很难检测出概括，使用环形光加偏振，使概括边缘清澈，突显出晶片的概括 。
芯片定位检测
使用光源：LTS-COX38-CP-W
芯片极度幼，必要在6倍镜头下能力看到轻微的概括，在高倍镜头下通常同轴已经满足不了清澈度了，使用高精度同轴，使芯片概括清澈 。
