道理:
使用新型光学元件,共同同轴线光源可对光滑表表进行凹凸检测。光源上配有光栅元件,当检测到凹凸点时,条纹的成像就会产生变形,此变形的地位即为凹凸点的地位。
产品特点:
★透光性高, 均匀性好
★设计共同同轴线光
★特殊光学设计,成像成效优良
行业利用:
★光滑表表凹凸、划伤、黑点等缺点检测
利用案例:
1.反光膜曲面、凹凸点检测
样品图1
成效图1
2.手机偏光膜曲面、凹凸点检测
样品图2

成效图2
注明:对于光滑表表的凹凸点,通过判断条纹的弯曲很容易找出缺点地位,放大缺点。线阵检测面积大,可凭据样品的大幼选择相对大的光源来满足视野的,均匀性相对面阵更有优势。
3.偏光膜轻微划伤等缺点检测
样品图3
成效图3
注明:对于光滑表表的轻微划伤点,通例的光源检测很难看到缺点,通过光栅同轴光源后,缺点部门出现出栅格杂乱,凸显出缺点,有利于机械视觉鉴别。
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